Biblio
XC9500XL High-performance CPLD Family Data Sheet. Xilinx, Inc., 2004.
An integrated physical model that characterizes creep and hysteresis in piezoelectric actuators. Simulation Modelling Practice and Theory, Elsevier, vol. 16, 2008, p. 93–110, ISSN 569-190X, DOI 10.1016/j.simpat.2007.11.005. Abstract
Electron Beam Surface Countouring. Proceedings of the 8th International Conference on Electron Beam Technologies, Varna: Bulgarian Academy of Sciencies, 2006, p. 78–84.
Electronenstrahl-Randschichtbehandlung: Innovative Technologien für Höchste insustrielle Ansprüche. Germany: pro–beam AG & Co. KGaA, 2003.
New electron beam technologies for surface treatment. Proceedings of the 7th International Conference on Electron Beam Technologies, Varna: Bulgarian Academy of Sciencies, 2003, p. 202–209.
Zobrazování svarů v elektronové svářečce. Brno: Fakulta elektrotechniky a informatiky VUT v Brně, Ústav radioelektroniky, 1998.
Small-volume Reactive Metal Alloys Prepared by Ellectron Beam Melting. 21st International Conference on Metallurgy and Materials, Brno, Czech republic: , 2012. Abstract
Víceúčelová vakuová pec s indukčním, elektronovým a odporovým ohřevem. Slaboproudý obzor, , roč. 28, 1965, p. 146–152.
Vakuová technika. Praha: SNTL, 1954.
Kryochirurgický přístroj pro jemné operace. Jemná mechanika a optika, , 51, 2006, p. 13–15, ISSN 0447-6441.
Technologické využití elektronového svazku. Jemná mechanika a optika, (10), 2012, p. 270-274. Abstract
Elektronový svazek v moderní výrobě. Vesmír, , 88, 2009, p. 252–253, ISSN 0042-4544.
High Voltage Stability Measurements. Electrotechnics & Electronics, Sofia, Bulgaria: The Union of Electronics, Electrical Engineering and Telecommunications, 47 (5-6), 2012, p. 75-78, ISSN 0861-4717. Abstract
Corrections of magnification and focusing in a cathode lens-equipped scanning electron microscope. Scanning, Mahwah NJ USA: , vol. 28, 2006, p. 155–163, ISSN 0161-0457.